芯片测试线下技术研讨会(8月5日 苏州)
- 2025-07-18 08:24:05
NI一直致力于“在中国,为中国”,此次研讨会将聚焦LabVIEW最新技术和全新框架,新产品介绍及应用方案展示。同时,还根据城市产业特点,选择工程师和技术专家最感兴趣的话题,与NI资深研发同事进行深入交流,共同探讨测试测量新技术发展和应用。
苏州站即将起航,诚邀您相聚共破智能测试之局!

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表科技区角网立场。仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。
点击这里
扫码添加微信

- 点赞 0
-
分享
微信扫一扫
-
加入群聊
扫码加入群聊