在最新一期"Podcast for Engineers"播客中，英飞凌碳化硅可靠性专家Paul Salmen为我们揭开了功率半导体可靠性测试的神秘面纱。从高温高压加速测试到模拟真实工况的应用年限测试，Paul详细讲解了如何通过科学方法将20年的使用寿命验证压缩到短短1000小时内完成。


节目中，Paul还分享了英飞凌如何将可靠性理念贯穿产品全生命周期：从采用沟槽MOSFET设计确保栅氧化层质量，到开发.XT互联技术解决牵引应用中的热循环挑战。这些技术创新使得碳化硅器件能够在电动汽车充电、太阳能逆变器等严苛环境下保持长期稳定运行。


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敬请期待下期精彩内容，我们将聚焦"碳化硅的未来发展趋势"，为您解析下一代碳化硅技术的关键突破方向。英飞凌技术专家将分享他们对宽禁带半导体技术演进的前瞻洞察。


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