研讨会邀请:7月10日,南京 | NI测试测量技术研讨会,邀您共赴一场测试技术之约!
- 2025-07-01 14:30:52

NI一直致力于“在中国,为中国”,此次研讨会将聚焦LabVIEW最新技术和全新框架,新产品介绍及应用方案展示。同时,还根据城市产业特点,选择工程师和技术专家最感兴趣的话题,与NI资深研发同事进行深入交流,共同探讨测试测量新技术发展和应用。
南京站即将起航,诚邀您相聚共破智能测试之局!

2025年7月10日,14:00-17:10(12点30开始签到)

(地址:南京市鼓楼区中央路1号)


LabVIEW+开源大模型实机演示
NI DataLink解决方案
基于NI FPGA的机电作动器半物理仿真系统
基于SDR的下一代频谱识别参考架构
半导体参数测试仪
Wi-Fi 7/UWB测试解决方案
半导体数模转换芯片(ADC)测试方案
基于PXI平台的MZM调制器测试方案
全新数据采集产品系列——mioDAQ
5G NR应用架构
基于Opal eHS的桌面MCU/OBC HIL测试
基于PanoCar的ADAS HIL系统
🎁大会抽奖
Beats 耳机
小米口袋打印机
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