广立微闪耀亮相 创新成果获瞩目

广立微新发布的 YAD (Yield Aware Diagnosis)作为一款专业良率分析与提升工具，因其深耕于 DFT（可测性设计）与良率分析领域，并可以赋能半导体设计与制造企业高效完成良率分析及根因定位，构建从芯片设计诊断到量产良率提升的全流程分析闭环，进而缩短良率优化周期、降低生产成本，吸引众多专业观众前来咨询。

在展会现场热烈的交流氛围中，广立微技术团队详细讲解了YAD的核心功能与价值。YAD全面满足产品和测试工程团队的需求，借助大数据驱动的智能诊断引擎，贯通设计、测试诊断与制程监控全流程，提升溯源效率与根因定位精度。值得注意的是，YAD已在多个客户的实际案例中得到验证，并获得高度认可。展会现场广立微技术专家从提升分析效率、提高根因分析准确率、识别隐藏系统性设计问题、多维度数据分析与验证、高度智能自动化5点客户价值的维度为前来咨询的观众逐一展开讲解。

SemiMind：半导体大模型平台

除了YAD这一明星产品，广立微旗下的SemiMind半导体大模型平台，是一个 “知识库+智能体” 驱动的 AI研发基座。它接入了DeepSeek-R1等大模型，并深度协同，构建了一个开放、灵活、可扩展的智能研发生态系统。区别于目前通用型大语言模型平台，广立微SemiMind不仅能提供私有化知识库搭建，还可以结合自身业务理解，落地多个半导体专业智能体，包括设计智能体– Design Rule形成及检查；测试智能体–测试方案自动形成；良率分析智能体– YMS/DMS系统自主分析等。